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Pb/Sn凸剪切性能研究

Study on Shear Strength Characters of Pb/Sn Bump

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【作者】 李倩倩陈国海马莒生

【Author】 LI Qian-qian;CHEN Guo-hai;MA Ju-sheng Department of Materials Science and Engineering,Tsinghua University,Beijing 100084,China

【机构】 清华大学材料科学与工程系电子材料与封装技术研究室清华大学材料科学与工程系电子材料与封装技术研究室 北京 100084北京 100084北京 100084

【摘要】 在实际使用条件下,Pb/Sn凸点会由于承受温度循环而产生剪切应力,剪切应力导致的主要失效方式是开裂.通过对倒装焊后Pb/Sn凸点剪切强度的测量及对剪切后断口的分析,发现破坏主要发生在凸点下金属(UBM)层内部或UBM与Al焊盘之间,平均剪切强度受凸点尺寸影响很小,范围在21~24MPa。

【Abstract】 Because of excellent property and low cost, Pb/Sn bump plays a key role in chip level packaging. In practice,its shear strength is induced by temperature recycle and the main failure model is cracking. In this paper, we measured theshear strength of Pb/Sn bumps after bonding and analyzed the fracture positions by SEM. The results of the experimentindicate that most fracture happened in UBM or between UBM and Al pad, and the average shear strength is about 21~24MPa.

【关键词】 Pb/Sn凸点UBM剪切强度
【Key words】 Pb/Sn bumpUBMshear strength
  • 【文献出处】 电子元件与材料 ,Electronic Components $ Materials , 编辑部邮箱 ,2004年05期
  • 【分类号】TN405
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