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扫描探针显微镜在锆合金氧化膜显微组织研究中的应用

Application of Scanning Probe Microscopy in Study on Microstructure of Oxide Films Formed on Zircaly-4

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【作者】 周邦新李强姚美意刘文庆

【Author】 ZHOU Bang-xin, LI Qiang, YAO Mei-yi,LIU Wen-qing( Institute of Materials , Shanghai University , Shanghai 200072 , China)

【机构】 上海大学材料研究所上海大学材料研究所 上海 200072上海 200072上海 200072

【摘要】 Zr-4合金在高压釜中经360℃高温水腐蚀后,用扫描探针显微镜(SPM)研究了氧化膜中的显微组织和晶粒形貌。由于SPM具有很高的水平和垂直分辨率,适合于观察表面只有微小起伏的显微组织,所以能够清晰地观察到氧化膜中的裂纹、空洞和晶粒等显微组织。测试样品的制备方法简便。

【Abstract】 The microstructure of oxide films formed on zircaloy-4 tested in autoclave at 360 ℃ ,18. 6 MPa is investigated by means of scanning probe microscopy (SPM). The microstructure with only slight undulation on the surface can be examined by SPM,because it has very high resolution both on horizontal and vertical directions. So that the microstructure of cracks, pores and grains in oxide films can be clearly observed. The method for the preparation of SPM specimens is simple and convenient.

【基金】 国家自然科学基金(50171039)
  • 【文献出处】 原子能科学技术 ,Atomic Energy Science and Technology , 编辑部邮箱 ,2003年S1期
  • 【分类号】TG115.2
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】195
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