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氟化物气相沉积制备钨涂层
Fluorides CVD Methode for Tungsten Films
【摘要】 采用氟化物氢还原的方法制备钨涂层。结果显示涂层的厚度可达 15 0微米以上 ,密度为理论密度的 99%,纯度可达 99.9%。采用扫描电境分析沉积层组织形貌 ,结果显示气相沉积钨是沿沉积方向上生成柱状晶体结构。
【Abstract】 Tungsten films may be deposited by the hydrogen reduction of tungsten hexafluoride. The films thickness is 150um.The purity 99.9%.The density 99%TD.The CVD tungsten films are cylindric microstructure along the lines of deposition.
- 【文献出处】 硬质合金 ,Cemented Carbide , 编辑部邮箱 ,2003年03期
- 【分类号】TG174.4
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