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氟化物气相沉积制备钨涂层

Fluorides CVD Methode for Tungsten Films

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【作者】 杜继红李争显周慧黄春良

【Author】 Du Jihong Li Zhengxiang Zhou Hui Huang chungliang (Northwest Institute for Nonferrous Metal Research 710016)

【机构】 西北有色金属研究院西北有色金属研究院 西安710016西安710016

【摘要】 采用氟化物氢还原的方法制备钨涂层。结果显示涂层的厚度可达 15 0微米以上 ,密度为理论密度的 99%,纯度可达 99.9%。采用扫描电境分析沉积层组织形貌 ,结果显示气相沉积钨是沿沉积方向上生成柱状晶体结构。

【Abstract】 Tungsten films may be deposited by the hydrogen reduction of tungsten hexafluoride. The films thickness is 150um.The purity 99.9%.The density 99%TD.The CVD tungsten films are cylindric microstructure along the lines of deposition.

【关键词】 氟化物气相沉积
【Key words】 fluoridesCVDtungsten
  • 【分类号】TG174.4
  • 【被引频次】16
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