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PCS亚微米及纳米颗粒粒度测量仪的研制

PCS Particle Sizing Instrument

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【作者】 申晋郑刚孙浩杨渝川

【Author】 SHEN Jin, ZHENG Gang, SUN Hao, YANG Yu chuan (College of Optics and Electronice Engineering,University of Shanghai for Science and Technology, shanghai 200093,China)

【机构】 上海理工大学光学与电子信息工程学院上海理工大学电气学院上海海运学院机电系 上海200093上海200093上海200129

【摘要】 介绍一种利用光子相关光谱技术进行亚微米及纳米颗粒粒度测量的PCS粒度仪的工作原理和设计

【Abstract】 The development of PCS particle sizing instrment is introduced in this paper. The hardware of the instrument and the software outline are given.

【基金】 上海市科技发展基金项目 0 2 2 2 610 3 0
  • 【文献出处】 仪表技术 ,Instrumentation Technology , 编辑部邮箱 ,2003年02期
  • 【分类号】TH744
  • 【被引频次】13
  • 【下载频次】105
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