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微处理器测试系统设计

Test System Design for Microprocessor

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【Author】 GUAN Guo liang, LI Xi,WANG Heng cai,ZHAO Zhen xi (Department of Computer Science,University of Science and Technology of China,HeFei 230026, China)

【机构】中国科学技术大学计算机科学技术系；中国科学技术大学计算机科学技术系安徽合肥230026；安徽合肥230026；安徽合肥230026；

【摘要】为了保证微处理器芯片设计的正确性 ,需要进行大量的仿真和测试 ,因此需要一个微处理器测试系统 ,以实现微处理芯片功能的测试和调试 .本文分析了微处理器测试系统的功能、组成以及设计中的关键问题更多还原

【Abstract】 An test system is essential for the emulation and simulation of a Microprocessor design. This paper presents a prototype of the test system. We also introduce the functions, components and some key points in the design.更多还原

【关键词】微处理器功能测试；测试系统；软硬件协同设计；
【Key words】 Microprocessor function test； test system； hardware/software codesign；

【基金】国家自然科学基金 ( 60 2 73 0 42 )资助 ;安徽省自然科学基金 ( 0 3 0 42 10 1)资助

【文献出处】小型微型计算机系统 ,Mini-micro Systems , 编辑部邮箱 ,2003年08期

【分类号】TP332
【被引频次】2
【下载频次】123

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