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分光光度法测定电镍中的硅
【摘要】 <正> 1 前言 电镍中杂质硅的测定原来采用的是光谱仪测定,此方法流程长,极易污染,而且测定结果偏高。本试验采用钼蓝分光光度法测定硅,以电镍(含硅0.0001％～0.002％)试样为对象进行条件试验,拟定了测定电镍中微量硅的正丁醇萃取硅铜蓝分光光度法。
- 【文献出处】 新疆有色金属 , 编辑部邮箱 ,2003年S1期
- 【分类号】TG115.3
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【摘要】 <正> 1 前言 电镍中杂质硅的测定原来采用的是光谱仪测定,此方法流程长,极易污染,而且测定结果偏高。本试验采用钼蓝分光光度法测定硅,以电镍(含硅0.0001％～0.002％)试样为对象进行条件试验,拟定了测定电镍中微量硅的正丁醇萃取硅铜蓝分光光度法。