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电子束曝光机静电偏转系统

Electrostatic Deflection System of E-beam Lithography Machine

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【作者】 程建辉尹明

【Author】 CHENG Jianhui1,YING Ming2(1.College of Mechanical Engineering,Shandong University, Jinan 250061, China; 2.Ebeam Laboratory , Shandong University, Jinan 250061, China)

【机构】 山东大学机械工程学院山东大学电子束研究室 济南250061济南250061

【摘要】 以静电极板为电子束曝光机偏转负载,用双通道扫描原理进行扫描,并使用计算机辅助设计研究电子束曝光机聚焦偏转系统的结构。由SDS-3电子束曝光机试验结果表明,复合静电偏转可以达到磁偏转相似的像差水平。

【Abstract】 Using the electrostatic plates as the load of the Ebeam deflection system and the double channels scanning the structure of the Ebeam column is analyzed with CAD. The experimental results of SDS-3 Ebeam lithography machine show that the aberrations of the electrostatic deflection are in the same order of the magnetic deflection.

【关键词】 扫描系统电子束像差静电偏转
【Key words】 scanning systemE-beamaberrationelectrostatic deflection
  • 【文献出处】 微细加工技术 ,Microfabrication Technology , 编辑部邮箱 ,2003年03期
  • 【分类号】TN305
  • 【被引频次】1
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