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一种新的HEMT小信号模型参数提取方法
A New Parameter-extraction Method for HEMT’s Small-signal Model
【摘要】 介绍了一种高电子迁移率晶体管 (HEMT)的小信号参数提取方法———综合多偏置点优化参数提取法。该文首先推导并提出了器件的模型、确定外部参数和内部参数 ,其次介绍了多偏置点优化算法。最后 ,以PHEMT器件为例进行鲁棒性和精确性测试 ,实验采用一系列随机起始值 ,结果表明 ,提取的参数值与经验值相差小于 1%。
【Abstract】 A multibias optimizing parameter extraction technique for high electron mobility transistor (HEMT) small signal model is described. Firstly, HEMT’s small signal equivalent circuit is introduced, determining intrinsic and extrinsic elements. Secondly, a multibias decomposition based optimization method is presented. Lastly, robustness and accuracy tests, with a different set of random initial values , are performed on measured S parameters of a PHEMT device. Results indicate that the extracted parameters typically vary by less than 1%.
【关键词】 HEMT;
参数提取;
小信号模型;
【Key words】 High electron mobility transistor(HEMT); Parameter extraction; Small signal model;
【Key words】 High electron mobility transistor(HEMT); Parameter extraction; Small signal model;
【基金】 “九五”电科院军事预研基金项目 (HD9670 6)
- 【文献出处】 微波学报 ,Journal of Microwares , 编辑部邮箱 ,2003年03期
- 【分类号】TN32
- 【被引频次】16
- 【下载频次】234