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扫描电子显微镜
【摘要】 <正> 随着科学技术的发展进步,人们不断需要从更高的微观层次观察、认识周围的物质世界。细胞、微生物等微米尺度的物体直接用肉眼观察不到,显微镜的发明解决了这个问题。目前,纳米科技成为研究热点,集成电路工艺加工的特征尺度进入深亚微米,所有这些更加微小的物体光学显微镜也观察不到,必须使用电子显微镜。电子显微镜可分为扫描电子显微镜简称扫描电镜(SEM)和透射电子显微镜简称透射电镜(TEM)两大类。
- 【文献出处】 上海计量测试 ,Shanghai Measurement and Testing , 编辑部邮箱 ,2003年06期
- 【分类号】TH742
- 【被引频次】143
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