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一种ESD保护结构的集总参数模拟方法

A Simulation Method for ESD Protection Structure

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【作者】 邱国良李瑞伟曾莹

【Author】 QIU Guo-liang, LI Rui-wei, ZENG Ying(Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, P. R. China)

【机构】 清华大学微电子学研究所清华大学微电子学研究所 北京 100084北京 100084北京 100084

【摘要】 文章提出了一种通过集总参数电路对ESD保护结构进行模拟的方法。利用HSPICE电路模拟软件,对ESD保护结构进行了集总参数模拟,获得了保护结构在ESD事件中的功率和温度分布。

【Abstract】 A simulation method for ESD protection structure is presented in the paper by utilizing lumped-parameter circuit. Both the power and temperature distributions of an ESD protection structure during an ESD event are obtained using HSPICE.

  • 【分类号】TN407
  • 【被引频次】8
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