节点文献

F-P标准具间距高精度测量

High Precision Measurement of F-P Etalon Spacing

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 王秀琳黄文财谢建平

【Author】 Wang Xiulin, Huang Wcncai, Xic Jianping(Basic Course Department, Jimei University, Xiamen 361021 China ; Department of Physics, University of Science & Technology of China, Hefei 230026 China

【机构】 集美大学基础部中国科学技术大学物理系中国科学技术大学物理系 厦门 361021合肥 230026合肥 230026

【摘要】 提出一种通过测量F-P标准具透射峰移动个数与F-P标准具入射角度改变的对应关系,从而求得F-P标准具间距的高精度测量方法。当角度测量精度为30″,光谱仪精度为2 GHz时,该方法测量F-P标准具间距的相对误差为4×10-4.

【Abstract】 A high precision measure method of F-P etalon spacing is proposed by measuring the moving number of transmission resonant peak with the incident angle of F-P etalon. The measurement precision of this method shows that the relative error of F-P etalon spacing will be 4×10-4 when precision of angle is 30" and optical spectrum analyzer precision is 2 GHz.

【关键词】 F-P标准具多光束干涉光谱
【Key words】 F-P etalonmulti-beam interferencespectrum
【基金】 集美大学基金(C50228)
  • 【文献出处】 量子电子学报 ,Chinese Journal of Quantum Electronics , 编辑部邮箱 ,2003年06期
  • 【分类号】O439
  • 【被引频次】7
  • 【下载频次】236
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络