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原子力显微镜及其在各个研究领域的应用
An Atomic Force Microscope and Its Application
【摘要】 在当今的科学技术中 ,如何观察、测量、分析尺寸小于可见光波长的物体 ,是一个重要的研究方向。在众多的科学领域里 ,人们希望实时地看到具体的真实变化过程 ,而不仅仅是根据前后的现象和关系来推理 ,这就需要高分辨率的显微镜。适应这种需要 ,许多用于表面结构分析的现代仪器问世 ,如透射电子显微镜(TEM)、扫描电子显微镜(SEM)、场离子显微镜(FIM)、俄歇电子能谱仪(AES)、光电子能谱(ESCA)等 ,但是大多数技术都无法真正地直接观测物体的微观世界。在这之后 ,原子力显微镜出现了。一、原子力显微镜的结构和工作原理1982年 ,GerdBinning和HeinrichRohrer在IBM公司苏
- 【文献出处】 科技导报 ,Science & Technology Review , 编辑部邮箱 ,2003年03期
- 【分类号】O488
- 【被引频次】41
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