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用过采样和求均值技术提高模/数转换器的分辨率

Resolution Improvement of ADC by Using the Oversampling and Mean value technology

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【作者】 张守钧庞彦斌

【Author】 ZHANG Shou jun,PANG Yan bin (Information Institute,BUCT,Beijing 100029, China)

【机构】 北京化工大学信息学院北京化工大学信息学院 中国北京100029中国北京100029

【摘要】 针对目前单片机内嵌的模 /数转换器 (ADC)的分辨率太低 ,而外接高分辨率ADC成本又太高的情况 ,提出了用“过采样和求均值”的技术来使在有用的测量频带内的信噪比 (SNR)得到改善 ,从而提高ADC测量的分辨率。并利用MATLAB对其结论进行仿真 ,且在单片机上予以实现 ,结果表明测量分辨率明显提高。

【Abstract】 Due to low resolution of ADC in the present MCU and high cost if ADC of high resolution is used,the oversampling and mean value technology is given to improve the signal noise rate in the useful measring frequency consequently the resolution of ADC is increased.The simulation of results is made by MATLAB and an implementation is also done in a one-chip machine,the result shows that measuring resolution is obviously improved.

  • 【文献出处】 计算机测量与控制 ,Computer Automated Measurement & Control , 编辑部邮箱 ,2003年06期
  • 【分类号】TN792
  • 【被引频次】22
  • 【下载频次】339
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