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平晶谱仪谱线波长的直接标定

New Planar Crystal X-ray Spectrometer with Independent Wavelength Calibration Ability

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【作者】 刘智李儒新贾天卿邓蕴沛范品忠曾志男徐至展

【Author】 LIU Zhi, LI Ru xin, JIA Tian qing, DENG Yun pei, FAN Pin zhong, ZENG Zhi nan, XU Zhi zhan (Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, The Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China)

【机构】 中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学开放实验室中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学开放实验室 上海201800上海201800上海201800

【摘要】 提出一种简便的新方法用以实现X射线平晶谱仪谱线波长的直接标定 ,只需在谱仪晶体表面加上一个特制的辅助光阑 ,即可在不知光源位置和没有任何参考谱线的情况下精确标定谱线的波长。

【Abstract】 A novel method of measuring absolute X ray wavelengths using an auxiliary diaphragm attached to the planar crystal, which can accurately determine wavelengths without any reference line and any information or special position.

  • 【文献出处】 中国激光 ,Chinese Journal of Lasers , 编辑部邮箱 ,2003年02期
  • 【分类号】TH744
  • 【被引频次】4
  • 【下载频次】45
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