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石英晶体光轴方向厚度的光学测量研究
Optical measurement of the thickness alo ng the quartz crystal axis
【摘要】 给出了一种精确测量石英晶体光轴方向厚度的光学测量方法 ,其测量精度可以达到 0 .0 0 2mm。
【Abstract】 In the paper,an accurate optical method to meausure thickness al ong the quartz optical axis is put forwa rd,with which the measurement accuracy c an get up to 0.002mm.
【关键词】 旋光率；
石英晶体；
旋光特性；
【Key words】 optical rotating ration； quartz crystal； optical rotating c haracteristic；
【Key words】 optical rotating ration； quartz crystal； optical rotating c haracteristic；
- 【文献出处】 激光技术 ,Laser Technology , 编辑部邮箱 ,2003年02期
- 【分类号】O436.3
- 【被引频次】11
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