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硅基二氧化硅厚膜材料的快速生长

The Quick Deposition of Silica Thick Films on Silicon

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【作者】 吴远大张乐天邢华李爱武郑伟刘国范张玉书

【Author】 Wu Yuanda, Zhang Letian, Xin Hua, Li Aiwu, Zheng Wei, Liu Guofan, Zhang Yushu Department of Electronics Engineering, Jilin University, Changchun 130023

【机构】 吉林大学电子系光电子国家重点实验室吉林大学电子系光电子国家重点实验室 长春市130023长春市130023长春市130023

【摘要】 采用火焰水解法在Si片上快速淀积SiO2 厚膜材料 ,材料膜厚达到 4 0 μm以上 ,生长速率达8μm/min .然后将该材料分别在真空中 /空气气氛中高温致密化处理 ,获得了各种形态的二氧化硅厚膜材料 ,包括平整度好、光滑透明的玻璃态SiO2 厚膜材料 .并利用XRD、电子显微镜等仪器对SiO2膜的表面和膜厚进行了测试分析 .

【Abstract】 The SiO 2 thick films is deposited on silicon substrate by Flame Hydrolysis Deposition (FHD). The thickness of the films is up to 40 μm , and the deposition speed is as high as 8 μm per minute. Then, the films is consolidated in electric furnaces both in vacuum and gasoline situation, and several kinds of states of silica are obtained, including of uniform and transparent silica glass. Finally, the silica films is analyzed by meanings of XRD, microscope, etc.

【基金】 国家 973项目资助 (G2 0 0 0 0 36 6 0 2 )
  • 【文献出处】 光子学报 ,Acta Photonica Sinica , 编辑部邮箱 ,2003年02期
  • 【分类号】TN252
  • 【被引频次】4
  • 【下载频次】150
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