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计算机辅助霍尔测量系统

Computer-aided Hall Measurement System

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【作者】 谢世勇胡立群郑有炓

【Author】 XIE Shiyong HU Liqun ZHENG Youdou (Department of Physics, Nanjing University, 210093, CHN)

【机构】 南京大学物理系南京大学物理系 210093210093210093

【摘要】 霍尔测量是研究半导体材料性质的重要实验方法 ,文中设计、建立了一套计算机辅助测量系统 ,它能自动采集和处理数据。文中论述了该系统的组织构造、工作原理和软件实现。

【Abstract】 Hall measurement is widely used in measuring the electrical properties of semiconductor materials. We designed and implemented a computer-aided Hall measurement system. It can collect and deal with data automatically. In this paper we discussed the architecture, mechanism and implementation of this system.

【基金】 国家重点基础研究专项 (G2 0 0 0 0 683 )
  • 【文献出处】 固体电子学研究与进展 ,Research & Progress of Solid State Electronics , 编辑部邮箱 ,2003年01期
  • 【分类号】TM937
  • 【下载频次】54
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