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248nm深紫外光刻胶

EVOLUTION AND PROGRESS OF DEEP UV 248 nm PHOTORESISTS

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【作者】 郑金红黄志齐侯宏森

【Author】 ZHENG Jinhong, HUANG Zhiqi, HOU Hongsen (Beijing Institute of Chemical Reagents,Beijing 100022,P.R.China)

【机构】 北京化学试剂研究所北京化学试剂研究所 北京100022北京100022北京100022

【摘要】 本文从化学增幅技术的产生,深紫外248nm胶主体树脂及PAG发展历程、溶解抑制剂、存在的工艺问题及解决途径多个方面综述了深紫外248nm胶的发展与进步.

【Abstract】 Deep UV lithography operating at 248 nm with use of chemical amplification resists has finally become a production technology.This paper describes the evolution and progress of the deep UV 248 nm photoresists from aspects of birth of chemical amplification technology,evolution of deep UV 248 nm resists in matrix resins and PAG,dissolution inhibitor,processing problems and solutions of them.

  • 【文献出处】 感光科学与光化学 ,Photographic Science and Photochemistry , 编辑部邮箱 ,2003年05期
  • 【分类号】TQ577
  • 【被引频次】27
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