节点文献

ArF激光光致抗蚀剂的研究进展

THE PROGRESS OF ArF EXCIMER LASER PHOTORESIST

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 余尚先杨凌露张改莲

【Author】 YU Shangxian, YANG Linglu, ZHANG Gailian(Chemistry Department,Beijing Normal University,Beijing 100875,P.R.China)

【机构】 北京师范大学化学系北京师范大学化学系 北京100875北京100875北京100875

【摘要】 本文对近10年来有关ArF激光(193nm)光致抗蚀剂的研究开发情况进行了调研,对193nm光致抗蚀剂组成物的各个组分进行了归纳综述.从本文可以看出,利用193nm成像技术可以刻画线幅很细(<0.13μm)的图像,能适应信息技术的发展对于光致抗蚀剂高分辨率的要求.但若想将193nm成像技术在实践中推广应用,还有诸多问题需待研究解决.

【Abstract】 This article presented the progress of ArF excimer laser (193 nm) photoresist in last ten years.The different components of 193 nm photoresist were summarized in detail.It indicates that the fine pattern can be obtained by 193 nm lithography technology.ArF excimer laser is a leading candidate for the fabrication of fine pattern.But there are still some problems need to be resolved in the practice.

【基金】 2002-2005国家重点863项目
  • 【文献出处】 感光科学与光化学 ,Photographic Science and Photochemistry , 编辑部邮箱 ,2003年01期
  • 【分类号】TQ577.35
  • 【被引频次】5
  • 【下载频次】230
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络