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微观应力和晶粒尺寸的X射线单峰傅立叶分析法
The Fourier Single-Peak Analysis Method for Substructure Size and Microstrain by X-ray Diffraction
【摘要】 研究了傅立叶分析法必然存在"hook"效应的原因,提出解决此效应的方法,进而利用假设函数的方法,把推理严谨的多峰傅立叶分析法简化成单峰分析法。此方法引入参数m,不但能指出误差大小,而且能自动修正误差。单峰傅立叶分析法是一种简单且高精度的测定微观应力和晶粒尺寸的方法。
【Abstract】 The causes of the "Hook effect" which inevitably exists in the Fourier analysis were analyzed,the method of hypothetical function to simplify the Fourier analysis from multipeak to singlepeak was presented.By introducing the parameter "m",this method can not only indicate the degree of errors,but revise them as well.
【关键词】 X射线；
Voigt函数；
"hook"效应；
微观应力；
晶粒尺寸；
单峰傅立叶分析法；
【Key words】 X-ray diffractions； Voigt function； Hook effect； substructure size； microstrain； single peak； Fourier analysis；
【Key words】 X-ray diffractions； Voigt function； Hook effect； substructure size； microstrain； single peak； Fourier analysis；
【基金】 国家"863"计划资助项目(863-715-002-0060);天津市自然科学基金资助项目(953603411)
- 【文献出处】 光电子·激光 ,Journal of Optoelectronics.laser , 编辑部邮箱 ,2003年02期
- 【分类号】O722
- 【被引频次】16
- 【下载频次】376