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采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度测量的研究

A study on high-precision measurement of large-size axis diameter with array CCD

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【作者】 王庆有； 蔡锐； 马愈昭； 齐龙；

【Author】 WANG Qing-you, CAI Rui ,MA Yu-zhao, QI Long (1. School of Precision Instruments and Optoelectronic Engineering, Tianjin University, Tianjin 300072, China; 2. Key Laboratory of Optoelectronic Information Technical Science under Ministry of Education, Tianjin 300072, China)

【机构】 天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津大学精密仪器与光电子工程学院 天津300072； 信息技术科学教育部重点实验室,天津300072,天津300072； 信息技术科学教育部重点实验室,天津300072；

【摘要】 采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度的拼接非接触测量,克服了单片面阵CCD测量范围小的缺点,解决了用线阵CCD拼接测量时测量带太窄又不能扩展情况下所带来的问题。面阵CCD进行图像拼接的测量方法,适用于测量128-135mm的轴径,其测量精度高达±0.01mm。

【Abstract】 High-precision noncontact measurement for large-scale axis diameter is carried out through mosaic technology of array CCD images. This method overcomes the shortcomings of small range of single array CCD measurement and solves the problems caused by bandwidth too narrow to be expanded during linear array CCD mosaic measurement . The measuring method for splicing images of array CCDs is suitable for measuring axis diameter 128-135mm, with measuring accuracy as high as+/-0.01mm.

【关键词】 非接触测量； 面阵CCD； 图像拼接；
【Key words】 Non-contact measurement； Array CCD； Splicing images；
【基金】 天津大学精密仪器与光电子工程学院信息技术科学教育部重点实验室资助项目
  • 【文献出处】 光电工程 ,Opto-electronic Engineering , 编辑部邮箱 ,2003年06期
  • 【分类号】TN386.5
  • 【被引频次】43
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