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微透镜列阵浮雕深度控制的新方法

A new method for control relief depth of micro-lens array

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【作者】 董小春杜春雷潘丽王永茹刘强

【Author】 DONG Xiao-chun, DU Chun-lei, PAN Li, WANG Yong-ru, LIU Qiang (State Key Laboratory of Optical Technologies for Microfabrication, Institute of Optics and Electronics, Chinese Academy of Sciences, Chengdu 610209, China)

【机构】 中国科学院光电技术研究所微细加工光学技术国家重点实验室中国科学院光电技术研究所微细加工光学技术国家重点实验室 四川成都610209四川成都610209四川成都610209

【摘要】 在对材料光刻阈值特性进行研究的基础上,提出了一种可有效克服材料非线性特性影响,提高微透镜浮雕深度的新方法——基底曝光法。在曝光之前,对抗蚀剂整体施加一定量的曝光,提升抗蚀剂刻蚀基面。该方法可制作出面形均方根误差小于3%的微透镜阵列。

【Abstract】 On the basis of studying lithographic threshold of photoresists, a new methodpreexposure method that can effectively overcome nonlinear property and improve relief depth of micro-lens array is proposed. Before exposure process, certain amount of exposure is applied to the whole photoresist for rising base plane of photoresist. Micro-lens array with surface shape error less than 3% can be manufactured with this method.

【基金】 国防预研课题资助;中国科学院知识创新工程方向新项目资助
  • 【文献出处】 光电工程 ,Opto-electronic Engineering , 编辑部邮箱 ,2003年04期
  • 【分类号】TN305.7
  • 【被引频次】12
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