节点文献
基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱用于高分子端基修饰反应的监控
【摘要】 1 引 言基质辅助激光解吸电离飞行时间 (ＭＡＬＤＩ ＴＯＦ)质谱是近年来发展起来的一种“软电离”质谱分析方法 ,具有样品分子不易碎裂 ,准分子离子峰强的优点 ,在多肽、蛋白质、ＤＮＡ等生物大分子及杯芳烃等重要的有机化合物的分析中得到广泛的应用。但实践证明 ,ＭＡＬＤＩ ＴＯＦ质谱还是高分子化合物的有效表征和结构鉴定手段。本文将ＭＡＬＤＩ ＴＯＦ质谱用于监控高分子化合物甲基丙烯酸丁酯末端酯基的水解反应的监控。2 实验部分2 .1 仪器和试剂 ＢｉｆｌｅｘＩＩＩ型ＭＡＬＤＩ ＴＯＦ质谱仪 (ＢｒｕｋｅｒＤａｌｔｏｎｉｃｓ公司 ) ,α 氰基肉桂酸 (ＣＨＣＡ)溶于四氢呋喃 (ＴＨＦ)配制成 2
【基金】 国家自然科学基金资助项目 (No .2 0 0 3 5 0 10 ,2 0 1710 0 1)
- 【文献出处】 分析化学 ,Chinese Journal of Analytical Chemistry , 编辑部邮箱 ,2003年01期
- 【分类号】O657.63
- 【被引频次】1
- 【下载频次】148