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表面镀铑对X射线荧光能谱测定白色K金首饰成分含量影响的研究

Surface plated Rh effects the analytical results in ED-XRF analysis of white karat gold jewelery

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【作者】 李叶农

【Author】 Li Yenong(Fujian Inistitute of Testing Technology, Fuzhou, Fujian, 350003)

【机构】 福建省测试技术研究所 福建福州 350003

【摘要】 本文研究表面镀铑对X射线荧光能谱测定白色K金首饰成分含量影响,用一次靶(Rh)测首饰成分含量,用二次靶(Sn)测镀层厚度,系统研究含量与镀Rh层厚度之间函数关系。结果表明随着铑层厚度增加,所测的Au,Ag元素含量将会增加。Cu,Ni元素含量将会减少,因此必须进行修正。

【Abstract】 Surface plated Rh effects on the analytical results, in ED-XRF analyris of white karat gold jewelries, the content of An and Ag is increasing, the content of Cu and Ni is discreasing when the thichness Rh coating is increasing.

【关键词】 表面镀铑X射线荧光能谱分析
【Key words】 Surface plated Rhi ED-XRF
  • 【文献出处】 福建分析测试 ,Fujian Analysis&Testirg , 编辑部邮箱 ,2003年03期
  • 【分类号】TS933
  • 【被引频次】6
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