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CeO2掺杂引起SnO2压敏电阻的晶粒尺寸效应

Grain-size-effect Induced by Doping CeO2 in SnO2 Varistors

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【作者】 滕树新； 王矜奉； 陈洪存； 苏文斌； 臧国忠； 高建鲁；

【Author】 TENG Shu-xin1, WANG Jin-feng1, CHEN Hong-cun1, SU Wen-bin1, ZANG Guo-zhong1, GAO Jian-lu2 (1.School of Physics and Microelectronics, Shandong University, Jinan 250100, China; 2.Jinan Antai Electronics Institute, Jinan 250010, China)

【机构】 山东大学物理与微电子学院； 济南安太电子研究所 山东济南250100； 山东济南250100； 山东济南250010；

【摘要】