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高性能片式多层氧化锌压敏电阻器材料研究

Study on the Materials for Chip Multilayer Zinc Oxide Varistors of High Performance

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【作者】 吴通涛钟朝位张树人

【Author】 WU Tong-tao, ZHONG Chao-wei, ZHANG Shu-ren (School of Micro and Solid Electronics, University of Electronic Science and Technology, Chengdu 610054, China)

【机构】 电子科技大学微电子与固体电子学院信息材料系电子科技大学微电子与固体电子学院信息材料系 四川成都610054四川成都610054四川成都610054

【摘要】 对非Bi系氧化锌压敏电阻材料进行了系统研究。研究结果表明:在ZnO基体材料中,添加适量PbO、Co2O3、Cr2O3、MnO2、ZrO2、TiO2、Sb2O3 、B2O3等非Bi系添加剂,采用传统陶瓷制备工艺和合适烧结工艺,可获得a >50、IL<1 mA、烧结温度低于1 100℃的实用非Bi系氧化锌电阻瓷料。采用该瓷料,利用MLC工艺,选用Pd30/Ag70电极浆料,制作出V1mA<30 V、a >30、IL<1 mA的片式多层压敏电阻器。

【Abstract】 A multilayer varisitor of high performance was prepared by a typical technique for multilayer ceramic capacitors. Pd30/Ag70 was adopted as inner electrode material and a new kind of Bi-free zinc oxide ceramic material as the body material. It was fired at the temperature below 1 100℃. In the material, non-bismuth additives such as PbO, Co2O3, Cr2O3, MnO2, ZrO2, TiO2, Sb2O3, B2O3, ZnO were introduced. Of the disk samples (10 mm1 mm) made from the material, the non-linear coefficient a > 50, V1mA = 390 V and leakage current IL < 1mA. Of the chip multilayer samples, V1mA<30 V, a >30, IL<1 mA .

  • 【文献出处】 电子元件与材料 ,Electronic Components $ Materials , 编辑部邮箱 ,2003年04期
  • 【分类号】TM255
  • 【被引频次】9
  • 【下载频次】190
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