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靶面化合物覆盖度的计算方法研究

Calculation Method for the Compound Fraction of Target Surface

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【作者】 陶甫廷王敬义何笑明王宇

【Author】 Tao Futing 1 ,Wang Jingyi 2 ,He Xiaoming 2 ,Wang Yu 2 (1.Guangxi Institute of Technology,Liuzhou 545006,China)(2.Huazhong University of Science an d Technology,Wuhan 430074,China)

【机构】 广西工学院华中科技大学华中科技大学 广西柳州545006湖北武汉430074湖北武汉430074

【摘要】 由溅射速率方程和反应粒子输运方程得出了靶面化合物的覆盖度。所有方程都用反应室结构参数和宏观参数表示。文中还给出了溅射淀积TiN薄膜的计算结果,结果表明与实验数相吻合。所建立的方法便于工艺优化的实施,属新的工程方法。

【Abstract】 The compound fraction of target surface was gotten from the rate equation s of sputtering and the transport equations of reactive particles .All of these equations are expressed by the constructional parameters of the chamber and macroscopic technology parameters.The calculating results from the TiN thin films deposited by reactive sputtering are well fit with the experim ental data.The methodes pro-vided in this paper will be benefit to the implementation of technology op timum as a new engineering methodes.

【基金】 国家自然科学基金资助项目(19874022)
  • 【文献出处】 稀有金属材料与工程 ,Rare Metal Materials and Engineering , 编辑部邮箱 ,2003年01期
  • 【分类号】TB43
  • 【被引频次】3
  • 【下载频次】52
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