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LD波长漂移检测及窄带滤光片的优化选择

Detection of LD Wavelength Shift and Optimal Selection of Thin Film Filter

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【Author】 PAN Qing1 , HU Bichun1 , LI Lin2 , YANG Sigang1 , HUANG Dexiu1 (1. Dept. of Optoelectronic Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, CHN; 2. College of Information,Jingzhou Normal University, Jingzhou 434100, CHN)

【机构】华中科技大学光电子工程系；荆州师范学院信息学院；华中科技大学光电子工程系湖北武汉430074；湖北武汉430074；湖北荆州434100；湖北武汉430074；

【摘要】对半导体激光器波长(频率)漂移的检测原理进行了分析,用计算机仿真分析出波长锁定的最佳区域。通过对波长漂移检测灵敏区域的界定和捕捉范围的选择,确定鉴频F P窄带滤光片的参数,提出波长锁定器光路优化的方法。更多还原

【Abstract】 The theory of semiconductor laser wavelength(frequency) shift is analyzed. The optimal region for wavelength(frequency) lock was selected by means of computer simulation. The parameters of FP thin film filter were obtained in terms of the limitation of the optimal region for wavelength(frequency) shift and the selection of capture range. A consideration to optimize optical design of wavelength locker is proposed.更多还原

【关键词】半导体激光器；波长锁定； F-P窄带滤光片；
【Key words】 semiconductor laser； wavelength lock； F-P thin film filter；

【文献出处】半导体光电 ,Semiconductor Optoelectronics , 编辑部邮箱 ,2003年02期

【分类号】TN929.11
【被引频次】3
【下载频次】154

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