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集成电路测试及其发展趋势

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【作者】 陆重阳； 卢东华； 文爱军；

【机构】 西安电子科技大学西电-亚同通信ASIC/IP设计实验室； 西安电子科技大学西电-亚同通信ASIC/IP设计实验室；

【摘要】 本文主要讨论了集成电路(IC)测试的目的、分类、测试系统及测试技术,最后论述了系统集成芯片(SoC)的出现对测试技术提出了新的要求。

【关键词】 集成电路测试； 集成芯片； 测试技术； 测试生成； 测试系统； 测试向量； 扫描测试； 系统级芯片； 边界扫描技术； 交流参数；
  • 【文献出处】 中国集成电路 ,China Integrated Circuit , 编辑部邮箱 ,2002年06期
  • 【分类号】TN407
  • 【被引频次】8
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