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几种 CCD 图像边缘的高精度检测方法分析

Analysis of several methods of CCD image edge detection improving accurary

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【作者】 高雁飞

【Author】 Gao Yanfei(Optoelectronical Test Institute,Xian Institute of Technology,Xian,710032) 

【机构】 西安工业学院光电测试技术研究所

【摘要】 对近年来提出的四种提高CCD测量分辨率的方法:概率论方法、解调法、空间拟合函数法、插值法进行了系统的理论分析,从数学上推导了这些方法的机理,总结了这些方法的优点和不足,为选用合适的检测方法提供了依据.

【Abstract】 The theoretical analysis of four methods presented in recent years to enhance CCD measure resolution is reported systematically,the mathematical mechanism of the methods is deduced,the advantages and disadvantages of the methods are summarized,and then the reasons for selecting suitable measure methods are provided.

  • 【文献出处】 西安工业学院学报 ,JOURNAL OF XI’AN INSTITUTE OF TECHNOLOGY , 编辑部邮箱 ,1998年02期
  • 【分类号】TN386.5,TN911.7
  • 【被引频次】28
  • 【下载频次】483
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