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MCM基极电测试技术

Electrical Test Technology of MCM’s Substraies

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【作者】 田东方; 李自学;

【Author】 Tian Dongfang and Li Zixue (Xi’an MicroelectronicsTechnology Institute, Xi’an 710054)

【机构】 西安徽电子技术研究所; 西安710054;

【摘要】 对于复杂的MCM多层互连基板,电测试是控制成本、确保质量的关键环节。本文简要介绍了探针电阻、电容、电子束、潜在开路缺陷电测试及其测试技术的应用。

【Abstract】 Fox complex MCM substrates, electrical test is afundamental element of cost control and quality assurance’ This paper presents electrical test of MCM substrates which include: probe resistance. capcitance.electron beam. latent open defects and applications ofthe test technologies.

  • 【文献出处】 微电子学与计算机 ,MICROELECTRONICS & COMPUTER , 编辑部邮箱 ,1998年03期
  • 【分类号】TN405
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