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BaFX:Eu(X:Cl,Br)中电子陷阱的研究

A Study on Electron Traps in BaFX: Eu (X: Cl, Br)

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【作者】 熊光楠娄素云李岚赵新丽

【Author】 Xiong Guangnan;Lou Suyun;Li Lan;Zhan Xinli(Tianjin Institute of Technology, Tianjin 300191)

【机构】 天津理工学院材料物理研究所!300191

【摘要】 X线影像板需要近红外光激励.掺入Ca2+,S2+,Mg2+后,用650~700um光激励BaFX:Eu2+,可以更为灵敏.用正电子湮没寿命谱,电子顺磁共振谱,加热发光谱和光激励发光谱,研究了X射线辐照后BaFx:Eu(X:CI,Br)电子陷阱的性质、状态、密度和转换.

【Abstract】 The X-ray image Plate will need near infrared light to stimulate. BaFBr:Eu2+may be sensitive to stimulate further into 650-700 urn by doping with Ca2+,Sr2+,Mg2+. It is shown by positron annihilation lifetime, electron paramagnetic resonance, thermoluminescence and photostimulation luminescence that upon X-ray irradiation the nature states,density and charge of the photostimulatable electron traps in BaFX: Eu(X: Cl,Br)have been studied arter x-ray irradiation.

【基金】 国家自然科学基金
  • 【文献出处】 天津理工学院学报 ,JOURNAL OF TIANJIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY , 编辑部邮箱 ,1998年03期
  • 【分类号】TQ577
  • 【被引频次】5
  • 【下载频次】23
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