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一种双焦干涉平面微观轮廓仪

A Double-focus Interference Planar Profilometer

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【作者】 程华山卓永模杨甬英

【Author】 CHENG Huashan;ZHUO Yougmo;YANG Yongyin(Department of Opt. &,. Elec. Engineering,Zhejiang University,Hangzhou 310027 )

【机构】 浙江大学光电信息工程系!杭州310027

【摘要】 激光双焦干涉表面微观轮廓仪在测量原理上首次实现完全共路干涉和无需参考面的突破,为在加工现场对超光滑表面的实时检测提供了可能。本文论述了一种产品化的双焦干涉平面微观轮廓仪的测试原理和控制过程,着重介绍其软件的功能结构和关键算法,最后给出了和进口Wyko轮廓仪比对的结果。

【Abstract】 Laser Double-focus Interference Profilometer first makes a breakthrough in totally common path interference without reference surface. The principle and control processo f a Double-focus Interference Planar Profilometer is introduced in this article,paying moreattention to its software structure and the key algorithm. Finally we give the results of thecomparisom with Wyko profilometer.

  • 【文献出处】 光学仪器 ,OPTICAL INSTRUMENTS , 编辑部邮箱 ,1998年03期
  • 【分类号】TH741
  • 【被引频次】2
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