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计算机辅助集成电路的老化

CAD Ageing of IC

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【作者】 刘英歌；

【Author】 LIU Ying Ge (Changchun Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences,Changchun 130022)

【机构】 中国科学院长春光学精密机械研究所；

【摘要】 概要叙述集成电路老化的意义，以及采用计算机辅助的方法进行元器件的老化实例。

【Abstract】 This paper states ageing purport of IC, and the instances of proceeding element failure by means of computer aided are also mentioned.

【关键词】 老化； A／D； D／A； 软件；
【Key words】 Failure； A/D； D/A； Software.；
  • 【文献出处】 光学精密工程 ,OPTICS AND PRECISION ENGINEERING , 编辑部邮箱 ,1998年06期
  • 【分类号】TP335,TN45
  • 【被引频次】5
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