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电阻抗成像技术的原理及其发展
【摘要】 介绍了一种新的图像重建技术———电阻抗成像（ＥＩＴ）技术．它根据物体内部不同物质的导电参数（如电阻率、电容率）的不同，通过对物体表面电流、电压的施加及测量来获知物体内部导电参数的分布，进而重建出反映物体内部结构的图像．作为一个数学物理反问题，ＥＩＴ技术具有其本身的特点和难点，因而目前还处于探索性研究阶段．本文在ＥＩＴ数学物理模型基础上对整个ＥＩＴ技术作了较为全面的介绍，包括理论原理、技术上的难点、系统分析、以及目前国际国内的研究现况和研究方向．通过对ＡＣＴ３的介绍，对ＥＩＴ系统的具体实现也做了简要分析．
【关键词】 图像处理；
重建；
数据采集；
反问题；
电阻抗成像（EIT）；
【基金】 航空科学基金
- 【文献出处】 北京航空航天大学学报 ,JOURNAL OF BEIJING UNIVERSITY OF AERONAUTICS AND ASTRONAUTICS , 编辑部邮箱 ,1998年02期
- 【分类号】TM938.84
- 【被引频次】63
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