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C2H2/N2流量比对沉积Ti(C,N)薄膜影响的研究
【摘要】 以C2H2和N2为反应气体,Ar作载气,用多弧离子法在高速钢基片上沉积Ti(C,N)薄膜。所制备的薄膜分别用SEM,XRD,XPS等技术进行分析与测试。给果表明,薄膜结构比较致密,膜厚在1.5~20μm。薄膜呈现了较强的(111)择优取向,且该取向与流量比r=C2H2/N2有关、薄膜的主要构成是Ti(C,N),但膜中有石墨相存在。
- 【文献出处】 真空科学与技术 , 编辑部邮箱 ,1997年05期
- 【分类号】TB383
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