金属材料中多种杂质无素的FI-MPT-AES连测

【摘要】 杂质元素含量是金属材料质量控制中的一项重要指标，通常的分析方法有光度法、原子吸收光谱法（AAS）及电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP－AES），其中光度法操作步骤稍多；AAS测定某一元素较方便，但很难实现多种元素连测；ICP－AES可同时测定多种元素，但仪器较昂贵，运转及维持费用高（消耗较多氯气）。本文使用微波等离子体炬（MPT）光源，利用较好的去溶系统并结合流动注射（FI）在线标准加入法，克服了微波等离子体原子发射光谱法（MWP－AES）中样品承受能力低、基体效应大的不足，实现了金属材料中多种杂质元素的连续测定，方法简单，分析速度快，成本低，并兼具ICP－AES及AAS的优点，具有较广泛更多还原