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全反射X射线荧光分析

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【作者】 赵利敏； 冼鼎昌；

【机构】 中国科学院高能物理研究所；

【摘要】 介绍了全反射Ｘ射线荧光分析的基本理论、实验装置和定量分析方法，简述了其发展史及其在医学、法学、环境科学、地矿科学、材料科学等领域的应用，评述了今后Ｘ射线荧光发展的方向．

【关键词】 全反射X射线荧光； 检测限（MDL）；
  • 【分类号】O657.34
  • 【被引频次】5
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