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氩原子近LⅡ,Ⅲ边结构和振子强度密度

STRUCTURE AND OSCILLATOR STRENGTH DENSITIES NEAR L Ⅱ,Ⅲ EDGES OF ARGON

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【作者】 凤任飞武淑兰刘颖辉暨青徐克尊

【Author】 FENG REN FEI\ WU SHU LAN\ LIU YING HUI\ JI QING\ XU KE ZUN (Department of Modern Physics, University of Science and Technology of China, Hefei\ 230026)

【机构】 中国科学技术大学近代物理系

【摘要】 在入射电子能量2500eV,平均散射角为0°的条件下测量了氩原子内壳层2p电子激发和电离的高分辨电子能量损失谱,确定了分立态的有效量子数和电离边的能量.同时确定了两组分立跃迁和电离连续区的振子强度密度.

【Abstract】 The high resolution fast electron energy loss spectrum for inner shell 2p electron excitation and ionization of argon has been measured in present work at an electron impact energy of 2500eV and a mean scattering angle of 0°. The ionization limits and effective quantum numbers have been deduced. The oscillator strength densities for discrete transitions and two ionization continua were also determined.

【基金】 国家自然科学基金,“八五”攀登计划,中国科学技术大学青年基金
  • 【文献出处】 物理学报 ,ACTA PHYSICA SINICA , 编辑部邮箱 ,1997年10期
  • 【分类号】O561
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】27
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