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测试在高级综合中的应用

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【作者】 曾平英； 毛志刚； 叶以正；

【机构】 哈尔滨工业大学微电子中心； 哈尔滨工业大学微电子中心；

【摘要】 本文在简略地回顾DFT技术发展过程的基础上,通过比较DFT和SFT,阐述了开发高级测试综合工具的重要性,给出了高级测试综合的基本概念和基本流程。

【关键词】 测试综合； 测试生成； 可测性； 行为级； 设计层次； BIST； 测试点； 测试图形； 自动工具； 测试方法；
  • 【文献出处】 微电子测试 ,Microelectronic Test , 编辑部邮箱 ,1997年02期
  • 【分类号】TN406
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