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扫描隧道显微镜针尖的电化学腐蚀制备方法

THE PREPARATION METHOD FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE TIPS BY ELECTROCHEMICAL ETCHING

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【Author】 Wu Xuemei Yang Lifu Gan Junyan Wang Menyu Ju Yan(The Thin Film Material Laboratory of Suzhou University,Suzhou, 215006)

【机构】苏州大学薄膜材料实验室；苏州大学薄膜材料实验室苏州 215006；苏州 215006；苏州 215006；

【摘要】本文利用电化学腐蚀方法设计并搭建了一种扫描隧道显微镜(STM)针尖制备的直流腐蚀电路。电路中使用了9013三极管和LM311快速比较器,使电解池切断时间低于500ns,成功地制备了质量较高的钨针尖。更多还原

【Abstract】 A set of electrocircuts were designed and established for DC electrochemical etching procedure to prepare STM tips. Triodes (9013) and high-speed comparators (LM311) were used in the etching circuits resulting in out-off time being less than 500ns and high quality STM tips being prepared.更多还原

【关键词】扫描隧道显微镜(STM)；电化学腐蚀；钨针尖；
【Key words】 Scanning Tunneling Microscope (STM )； Elcctrocllcmical Etching； W tips.；

【文献出处】苏州大学学报(自然科学) ,JOURNAL OF SUZHOU UNIVERSITY , 编辑部邮箱 ,1997年03期

【分类号】TN605
【被引频次】31
【下载频次】785

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