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电子束装置运行稳定性的测量

THE MEASUREMENT ABOUT STABILITY OF ELECTRON BEAM DEVICE

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【作者】 高劭宏赵永蓬王振胥刘学龙刘金成王骐

【Author】 Gao Shaohong,Zhao Yongpeng,Wang Zhenxu,Liu Xuelong,Liu Jincheng,and Wang Qi Institute of Opto Electronics Harbin Institute of Technology,Harbin 150001

【机构】 哈尔滨工业大学光电子技术研究所

【摘要】 为了验证电子束装置的稳定性,分别对电流波形、电压波形进行了多次测量,对二极管放电时注入腔中电子均匀性进行了探测,最后改变二极管真空度测量了泵浦氩的荧光谱的稳定性。

【Abstract】 In order to test the stability of the electron beam device,the waveforms of voltage and current are measured for many times.The homogeneity of electron in cavity is probed when the diode discharges.Finally changing the vaccum of diode,we measure the stability of fluorescence spectra of argon pumped by electron beam.

【基金】 国家863激光技术领域、国家自然科学基金资助
  • 【文献出处】 强激光与粒子束 ,HIGH POWER LASER & PARTICLE BEAMS , 编辑部邮箱 ,1997年04期
  • 【分类号】TL503.1
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】23
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