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光切法三维轮廓测量的原理及其应用  
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【英文篇名】 Principle and application of 3 D profile testing by light sectioning
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【作者】 王晓林; 陈伟民; 黄尚廉;
【英文作者】 Wang Xiaolin Chen Weimin Huang Shanglian (Optoelectronic technique and system Lab.; Chongqing University; Chongqing 630044);
【作者单位】 重庆大学国家教委光电技术及系统开放实验室;
【文献出处】 光学技术 , OPTICAL TECHNOLOGY, 编辑部邮箱 1997年 02期  
期刊荣誉:中文核心期刊要目总览  ASPT来源刊  CJFD收录刊
【中文关键词】 三维轮廓测量; 光切法; 应用;
【英文关键词】 three dimension profile testing; light sectioning; application.;
【摘要】 本文阐明了光切法三维轮廓测量的原理,分析了光切法在实际测量系统中的应用——双光源光切法,提出了与之相适应的空间及图像匹配方法,并用实验证明了此方法的正确性
【英文摘要】 The principle of 3 D profile testing by light sectioning is described. The application of this method in practical testing system——double source light sectioning is discussed and the appropriate method to mate the space and image is given. Such method has proved itself accuracy in our experiments.
【基金】 国家“八五”重点科技攻关项目
【分类号】 O435.2
【正文快照】 光切法三维轮廓测量的原理及其应用王晓林陈伟民黄尚廉(重庆大学国家教委光电技术及系统开放实验室,重庆630044)摘要:本文阐明了光切法三维轮廓测量的原理,分析了光切法在实际测量系统中的应用——双光源光切法,提出了与之相适应的空间及图像匹配方法,并用实验?

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