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多孔硅反射谱的测量与分析

The Measurement and Analysis of the Optical Reflectance Spectra of PS

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【作者】 晁战云徐伟弘唐洁影江开源

【Author】 Chao Zhanyun;Xu Weihong;Tang Jieying;Wang Kaiyuan (Department of Eletronic Engiarering,Southeast University,Nanjing,210096)

【机构】 东南大学电子工程系!南京210096

【摘要】 测量了多孔硅的光反射谱,并进行了分析和讨论,得出了其能带展宽等特性。利用K-K关系,计算得出了多孔娃的折射率n等光学常数,并结合单晶硅的相应光学常数进行了比较和分析.

【Abstract】 The optical reflectance spectra of PS is measured and analyzed. The result shows that the bandgap of PS has been broadened. Index of refraction n and other optical constants of PS are obtained by calculation with the Kramers-Kroning relation. A comparison between the optical constants of PS and that of crystal sili-con is made.

【关键词】 多孔硅K-K关系反射谱
【Key words】 Porous SiliconK-K RclationRerlectance Spectra
  • 【文献出处】 固体电子学研究与进展 ,RESEARCH & PROGRESS OF SOLIA STATE ELECTRONICS , 编辑部邮箱 ,1997年01期
  • 【分类号】TN304
  • 【被引频次】3
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