节点文献
硫化锌的光电子发射结构
Photoemissive structure in zinc sulfide
【摘要】 对硫化锌粉料、硫化锌半导体微晶薄膜进行了X射线光电子发射谱剖析。获得粉料、薄膜表层及表层下的电子态信息,揭示了硫化锌粉料、薄膜微结构与电致发光性能的关系
【Abstract】 : On the basis of analysis on XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) technique the information on electron states of ZnS powder, ZnS thin film surface and internal layer is obtained.The effect of the microstructure of ZnS powder and ZnS thin film on electroluminescent characteristics is revealed.
【关键词】 半导体微晶薄膜;
X射线光电子发射谱;
电子态;
微结构;
【Key words】 : Semiconductor Microcrystalline Thin Film; X-ray Photoelectron Spectroscopy(XPS); Electron State; Microstructure;
【Key words】 : Semiconductor Microcrystalline Thin Film; X-ray Photoelectron Spectroscopy(XPS); Electron State; Microstructure;
【基金】 福建省自然科学基金
- 【文献出处】 半导体光电 ,Semiconductor Optoelectronics , 编辑部邮箱 ,1997年06期
- 【分类号】O614
- 【被引频次】4
- 【下载频次】145