节点文献

Ni薄膜热敏电阻失效机理研究

Failure Mechanism of Ni Thin Film Thermistors

推荐 CAJ下载
PDF下载
不支持迅雷等下载工具，请取消加速工具后下载。

【Author】 Xie Jun, Zhou Lijun, and Li YunpengDept. of Electronics, Shenyang Polytechnic University, Shenyang l10023.

【机构】沈阳工业大学；沈阳工业大学沈阳市 110023；沈阳市 110023；沈阳市 110023；

【摘要】通过对Ni薄膜热敏电阻进行可靠性试验得出其失效模式,并对失效机理进行了分析。更多还原

【Abstract】 The failure mode of Ni thin film thermistor is established in this paper through reliability tests, and the failure mechanism is also analyzed.更多还原

【关键词】薄膜热敏电阻；可靠性；失效机理；
【Key words】 Thin Film Thermistor； Reliability； Failure Mechanism.；

【文献出处】仪表技术与传感器 ,Instrument Technique and Sensor , 编辑部邮箱 ,1996年12期

【分类号】TH811
【被引频次】1
【下载频次】132

知网节下载

节点文献中：

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络

节点文献