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对固定故障覆盖率的再认识和VLSI功能测试的展望
【摘要】 在数字系统测试方法研究工作中,门级固定故障覆盖率已被沿用了几十年。本文综述近年来一些学者对此所作的分析。研究结果表明,单凭故障覆盖率,仍难以衡量测试工作的质量。用故障覆盖率来预料芯片测试筛选的失误率,带有明显的局限性。从实效出发看问题,以100％故障覆盖率为目标的结构测试花费代价很大,仍难以达到满意的结果。功能测试方法有逐渐走向成熟的趋势。
【基金】 国家自然科学基金(标准号09376021)研究报告
- 【文献出处】 微电子测试 ,Microelectronic Test , 编辑部邮箱 ,1996年03期
- 【分类号】TN407
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