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C60和C70薄膜光吸收谱研究
【摘要】 用透射光谱法和光热偏转谱法测得了C60和C70薄膜在宽能量范围（0.6到6.5 eV）的光谱,并计算了吸收系数.根据分子轨道模型分析了C60和C70薄膜的光跃迁行为.Fuller烯薄膜的弱吸收光谱与非晶硅的类似.用Tauc公式确定了C60和C70薄膜的光学带隙分别为1.75和1.65eV.Urbach吸收边和亚隙吸收表明Fuller烯薄膜中存在无序状态,导致带尾态和缺陷态,这虽非C60或C70薄膜所固有,但无序的存在给准确测定Fuller烯薄膜的禁带宽度带来障碍.讨论了偏转介质与衬底对Fuller烯薄膜的弱吸收光谱的影响.
【基金】 国家自然科学基金资助项目
- 【文献出处】 中国科学(A辑 数学 物理学 天文学 技术科学) ,Science in China,Ser.A , 编辑部邮箱 ,1996年05期
- 【分类号】O484.41
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