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扫描电镜X射线能谱分析法测定低能重离子注入黄豆种子的深度

THE DEPTH OF LOW ENERGY HEAVY IONS Fe~+,Cu~+ AND Zn~+ INTO SOYBEAN SEEDS DETECTED BY SEM-EDAX

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【Author】 Gao Qingxiang Yang Hanmin (Biology Department of Lanzhou University,Lanzhou 730000)Li Wenjian Xie Hongmei Wei Zengquan (Institute of Modern Physics,Acadimia Sinica,Lanzhou 730000)

【机构】兰州大学生物系；中国科学院兰州近代物理研究所；中国科学院兰州近代物理研究所兰州 730000；兰州 730000；

【摘要】利用200kV 离子注入机产生的 Fe~+、Cu~+和 Zn~+3种重离子分别对黄豆种子进行直流注入,以扫描电镜X射线能谱分析法测定低能重离子的注入深度。测量定结果表明,Fe~+的最大注入深度未超过18μm,Cu~+、Zn~+的最大注入深度可达25μm。更多还原

【Abstract】 The soybean seeds were implanted with Fe~+,Cu~+ and Zn~+ low energy ions which were pro- duced by 200kV implantation ion installation at Institute of Modern Physics,Lanzhou.The im- plantation depth of ions was determined by means of a scanning energy dispersive analysis of X- ray(SEM-EDAX).The analysis results showed that the depth of Fe~+ ions implantation was not more than 18 μm,the deepest depth of Cu~+ and Zn~+ ions implantation reached was 25μm.更多还原

【关键词】低能重离子；直流注入；扫描电镜 X 射线能谱分析；黄豆；
【Key words】 Heavy ion； ion implanting； SEM-EDAX； soybean；

【基金】国家自然科学基金

【文献出处】核农学报 ,Acta Agriculturae Nucleatae Sinica , 编辑部邮箱 ,1996年04期

【分类号】S565.1
【被引频次】4
【下载频次】61

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