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长焦距光学系统杂光系数测试仪

THE DEVICE FOR THE MEASUREMENT OF THE VEILING GLARE INDEX OF LONG FOCAL OPTICAL SYSTEM

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【作者】 高万荣查冠华苗兴华潘来俊张兴珍梁蕴绵奏斌薛鸣球

【Author】 Gao Wanrong;Zha Guanhua;Miao Xinghua; Pan Laijun;Zhang Xingzhen;Ling Yunmian; Qin Bin;Xue Mingqiu(Space Optics Department,Xi’am Institute of Optics and Precision Mechanics,Academia Sinica Xi’an 710068

【机构】 中国科学院西安光学精密机械研究所空间光学研究室

【摘要】 报告了一种新的长焦距光学系统杂光系数测量装置,该装置除具有避免了制作大直径积分球的优点外,还能精确测量轴外杂光系数,分析各部分杂光源对杂光系数的影响。

【Abstract】 This paper presents a new device for measuring the veiling glare index of long focal lengthoptical system. The device can make the precise measurements of veiling glare index at an extra-axialobject point and analyze the influence of each stray light source on the veiling glare index as well asavoiding making the large diameter integrating sphere.

  • 【文献出处】 光子学报 ,ACTA PHOTONICA SINECA , 编辑部邮箱 ,1996年06期
  • 【分类号】O435.2
  • 【被引频次】9
  • 【下载频次】185
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